EM601-6 ESDEMC TEM-cell 横电磁波小室

产品简介：

产品原理：

EM601-6  是由美国 ESDEMC 生产并授权由EUTTEST代理销售的TEM-cell横电磁波小室，可以用于IC集成电路标准 IEC61967-2 及 IEC62132-8 的TEM测试法和带状线测试法， 最大频率可以测试使用至高达6GHz，辐射场强可达80 V/m @ 1V (静态场最大 240 kv/m， 瞬态场最大400 kv/m)。

产品运用范围：

ESDEMC  的  EM 601-6  是一个DC-6GHz的横电磁波TEM小室，在输入端输入射频信号后在小室腔体内可产生一个均匀、可控的电磁场，进行eut被测模块或IC的抗扰度测试。IC或其他模块安装在测试夹具上放入小室，也可以使用EMI接收机测试IC或模块的RE特性。 因为它的工作原理与TEM Cell相同，测试腔体内的E/H场与输入电压成比例，与小室的高度成反比，而且该设备工作频段宽，因此可应用在EMI，EMS，接收机灵敏度测试等很多领域。

TEM-cell 是什么？

“ TEM”代表“横向电磁（模式）”。电磁辐射的横向模式是在垂直于（即横向于）辐射传播方向的平面内辐射的特定场模式。TEM单元是在每一端逐渐变细以形成几何形状的矩形同轴传输线，该几何形状专门设计用于在给定的频率范围（通常为DC至几百MHz）上创建TEM模式。

TEM单元的有用频率范围由其几何形状决定，但通常遵循以下规则：TEM越大，可用的上限频率范围越低。在某个截止频率之上，会创建更高阶的模式（如下所示），这会使所有测试量在整个测试体积中都不稳定。也许解释TEM的最简单方法是通过它的作用：TEM可以让您测量产品的辐射场强，并使产品经受给定的场强。了解TEM更多资料，联系EUTTEST获取。

更多关于 TEM-cell 的介绍请参考下面文章介绍：

TEM-cell 用于辐射发射和辐射抗扰度的测试指南

满足EMC标准：

• IC的电磁抗扰度测试
• IC的电磁辐射测试
• IC的ESD场敏感度测试
• IEC 61967-2：2005集成电路 – 150 kHz至1 GHz的电磁辐射测量 – 第2部分：辐射发射的测量 – TEM单元和宽带TEM单元法
• IEC 61967-8：2011集成电路 – 150 kHz至3 GHz的电磁辐射测量 – 第8部分：辐射发射的测量 – IC带状线方法
• IEC 62132-8：2012集成电路 – 电磁抗扰度测量，150 kHz至3 GHz – 第8部分：辐射抗扰度测量 – IC带状线方法
• SAE 1752-3集成电路辐射发射的测量 – TEM /宽带TEM（GTEM）单元法; TEM Cell（150 kHz至1 GHz），宽带TEM单元（150 kHz至8 GHz）

了解更多IC-EMC测试标准清单。

技术参数：

产品规格表：

产品校准数据：

在整个测试频率范围内，您能拥有接近0dB 的插入损耗。

EM601-6 插入损耗

ESDEMC 官方授权代理商：

EUTTEST是ESDEMC的官方授权代理商，该公司的官方全称是：ESDEMC Technology LLC

深圳市YH533388银河测试技术有限公司被ESDEMC授权在中国区域销售所有产品，并提供所售产品的技术服务。